普通碳支持膜是一种zui常见并被广泛使用的一种支持膜，为两层支持膜结构，可以采用不同规格的载网做载体。从空间结构来讲，从下到上依次为载网，方华膜和碳
膜，它是在一层有机方华膜上再覆盖一层碳膜。由于碳层具有较强的导电以及导热性，弥补了无碳方华膜的荷电效应以及热效应，增强了膜整体的稳定性，可满足大
多数纳米材料（尤其是可分散的粉体材料）的一般形貌测试需要。但是由于这种支持膜本身的结构导致了整体支持膜的厚度较大，一般不太容易满足高质量的高分辨测试的要求。

中包装50枚/盒，中镜科仪铜载网，中镜科仪生产，支持膜厚度10-20nm。

【存储】：膜产品保存时，室温避光干燥保存(建议放干燥器或者干燥箱内)、防污染、防震荡，未拆封保质期1年，拆封6个月内用完。
【使用注意】：取用膜产品时采用高精尖镊子小心操作，防止产生弯折等破坏。存在有机膜，不能与有机溶剂接触。面向样品盒有字母的一面是铺膜的一面。本产品经过严格审核和检查，如有质量问题，请凭合格证上编号与我公司联系。

为了能更加方便和有效的利用透射电子显微镜（TEM）观察纳米材料，支持膜就应运而生。支持膜质量的优劣很大程度的影响到zui后的成像效果，其中膜厚成为人们关注的焦点，因为它与膜的承载能力和膜的背底影响这两项性能指标都有着的直接的联系。而这两项指标都是相对矛盾的，承载能力的增强就意味着的膜厚的增加，膜厚的增加又会导致膜背底影响的加剧。我公司生产研究人员就这一重大课题展开了深入的探讨，通过工艺的不断改进推出了一系列的支持膜来满足不同用户的需求。其中超薄碳支持膜、多孔膜和FIB微栅等都是本公司的du家产品。